随机表示和次序约束下的混量与混料均匀设计

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发表状态	已发表Published
题名	随机表示和次序约束下的混量与混料均匀设计
作者	田国梁 1; 方开泰1,2
发表日期	1998
发表期刊	中国科学(A辑)
ISSN/eISSN	1000-3126
卷号	28 期号:12 页码:1087-1101
摘要	考虑 3种区域 :A型区域 ,V型区域和T型区域 ,其中A型区域同可靠性增长分析、次序约束的统计推断及保序回归理论紧密相联 ;V型区域同混量均匀设计相联 ;T型区域同混料均匀设计相联 .利用 [0 ,1 ]区间上的均匀分布、指数分布和Beta分布的次序统计量 ,对这 3种区域上的均匀分布获得了它们的随机表示 .用这些随机表示 ,可以产生相应区域上的数论网和均匀设计 .该方法称为次序统计量方法 .用两个关于可靠性增长分析和均匀设计的例子对这一方法作了说明 .
关键词	偏差混料试验设计保序回归保序约束 MonteCarlo优化均匀设计
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收录类别	中文核心期刊要目总览
语种	中文Chinese
引用统计
文献类型	期刊论文
条目标识符	https://repository.uic.edu.cn/handle/39GCC9TT/5205
专题	个人在本单位外知识产出
作者单位	1.中国科学院应用数学研究所, 北京100080 2.香港浸会大学数学系, 香港
推荐引用方式 GB/T 7714	田国梁,方开泰. 随机表示和次序约束下的混量与混料均匀设计[J]. 中国科学(A辑), 1998, 28(12): 1087-1101.
APA	田国梁, & 方开泰. (1998). 随机表示和次序约束下的混量与混料均匀设计. 中国科学(A辑), 28(12), 1087-1101.
MLA	田国梁,et al."随机表示和次序约束下的混量与混料均匀设计". 中国科学(A辑) 28.12(1998): 1087-1101.